CH32V307进行 SDIO例程测试的时候程序卡死

CH32V307进行 SDIO例程测试的时候程序卡死在SD_Error FindSCR函数中这是为什么呢?从其他帖子中看到是因为SDIO和网口的IO冲突了,需要去掉R7,那么去掉R7。那么若是想同时读写SD卡和使用网口是否只能采取外界phy或着使用SPI读写SD卡呢?

使用的板子是CH32V307VCT6核心板单片机开发板 32位RISCV控制器 支持RT-Thread-tmall.com天猫

您好,若使用例程为CH32V307EVT SDIO例程,正常程序是不会有问题的,需要注意一下工程文件(ld文件、启动文件、宏定义)配置,如下图1。注意SDIO引脚硬件连接,如SCK引脚外,其他SDIO引脚建议接47K上拉电阻。若要同时使用SDIO和以太网,需要外接PHY,外接PHY模块需要使用RGMII接口或RMII接口,这样不会产生引脚冲突。在我们EVT例程中有对应的RGMII接口和RMII接口例程。关于引脚冲突以及你使用的测试板,可参考另一帖的回复。后续若有问题,建议通过邮箱(lzs@wch.cn)和我沟通

https://www.wch.cn/bbs/thread-89155-1.html 

image.png

图1


只有登录才能回复,可以选择微信账号登录