开发了IAP和APP两个工程源码,分别单独测试运行是通过了,请问怎么合并烧录?

芯片:CH32V203 和 CH32V307

都分别建了IAP和APP工程,分别通过MSR烧录进去(FD都是0开始的地址)测试运行正常了。
请问如何把这两个工程生成的HEX文件合并一起烧录进去?

在官方资料里面找到一个工具是可以合并成BIN的
【WCH_AssemblingFileTool.exe】

请问可以使用这个吗?合成bin后使用什么工具烧进去?

PS:
1、目前板子只设计支持SWD烧进去(UART1没有引出PA0,TTL烧不了)
2、我购买了官方的离线烧录器

您好,可以使用该工具合并文件,合并之后可以通过WCH-Link对应的上位机工具WCH-LinkUtility或者脱机烧录器进行下载,均支持SWD的下载方式,下面链接为WCH-LinkUtility下载链接,后续若有问题,可通过邮箱(lzs@wch.cn)和我沟通。

https://www.wch.cn/downloads/WCH-LinkUtility_ZIP.html



谢谢,已经使用这个工具操作了。
芯片:CH32V307


但发现没有经过IAP就直接运行APP了。下面是配置及运行的截图,请帮忙指导一下是哪个地方配置不正确。谢谢

1、下图,单独烧录时,通过调试测试是正常运行的。发现没有指定标识位,就跳入 5000 的位置
IAP.png


IPA的跳转配置(上图有打印出 [start user APP])

IAP-Jump.png


USER APP 的LD配置:

LD.png


两个工程合并成功

hex-combined.png


使用官方工作烧录成功

in-ok.png



板子烧完后,自动重启的调试口输出:

result.png


目前找不到是什么原因导致没有经过IAP就直接运行APP程序了


您好,正常应该是没问题的,你可以先不合并文件,直接通过IAP升级的方式将APP写入进去看能否成功,此外,可以拿我们EVT IAP例程测试对比一下,使用我们EVT例程是否可以正常运行,后续若有问题,可通过邮箱(lzs@wch.cn)和我沟通


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