CH32V307 ADC 问题?!

最近用CH32V307 ADC1  ADC10-ADC13(PC0-PC3) 通道采样温度探头数据,端口配置为GPIO_Mode_AIN 模式,不接采样电路时发现端口为3.3V高电平,接上10K上拉电阻的分压采样电路,经计算发现采样口有约280K左右弱上拉,端口配置为GPIO_Mode_IN_FLOATING模式问题依旧!另外测试中发现采样值偏大,用示波器观察发现线路有与采样频率同频的干扰脉冲(HCLK=120M,PCLK2=HCLK/2=60M,ADCCLK 8分频=7.5Mhz,DMA采样4通道,采样频率=7.5M/4/(239.5+12.5)=7.44K),加入104滤波电容干扰得到改善,但是如果这样ADC怎么测量高频信号?

检查一下是不是有的IO口灌进大于3.3V的电压了,虽然有的口时容忍5V的,但是对模拟电路影响很大,会导致所有ADC的采样值偏大。我们ADC有一个缓冲器ADC_BufferCmd(ADC1, ENABLE);开启有一定的抗干扰能力。具体问题可以邮箱沟通zdg@wch.cn


确实是这样,刚开始用仿真器调试,接了TTL串口(RX电压3.8V),去掉这个信号ADC 4个通道就正常了


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